LabVIEW based Automation Guide for Microwave Measurements

Autor Naina Narang, V. N. Ojha, Satya Kesh Dubey & další

LabVIEW based Automation Guide for Microwave Measurements - Naina Narang,V. N. Ojha,Satya Kesh Dubey,P. S. Negi Nedostupné

LabVIEW based Automation Guide for Microwave Measurements

Autor Naina Narang, V. N. Ojha, Satya Kesh Dubey & další

0.0 z 5 hvězdiček 0 hodnocení čtenářů

Kniha ( měkká vazba )

    • Produkt je nedostupný.
E-shopové listy

Při zaslání zboží balíčkem

K nákupu nad 99 Kč dárek zdarma v hodnotě 19 Kč

E-shopové listy

Magazín Knihkupec

Při zaslání zboží balíčkem

K nákupu nad 249 Kč dárek zdarma v hodnotě 69 Kč

Magazín Knihkupec

The book is focused on measurement automation, specifically using the LabView tool. It explains basic measurements in a simplified manner with appropriate step-by-step explanations and discussions of instrument capabilities. It touches upon aspects of measurement science, microwave measurements and software development for measurement. The… Přejít na celý popis

Nejlepší nabídka učebnic v ČR Od slabikáře pro prvňáčka po anatomii pro studenta medicíny. U nás najdete největší výběr učebnic pro základní, střední, vysoké i jazykové školy. Více informací

K tomuto produktu zákazníci kupují

Popis Hodnocení 0.0 z 5 hvězdiček 0 Vývoj ceny

Popis

The book is focused on measurement automation, specifically using the LabView tool. It explains basic measurements in a simplified manner with appropriate step-by-step explanations and discussions of instrument capabilities. It touches upon aspects of measurement science, microwave measurements and software development for measurement. The book can be used as a guide by technicians, researchers and scientists involved in metrology laboratories to automate measurements. The book explains the development process for automation of measurement systems for every step of the software development lifecycle. It covers system design and automation policy creation. The book uses a top-down approach which enables the reader to relate their own problems and develop a system with their own analysis. The book includes many examples, illustrations, flowcharts, measurement results and screenshots of a worked-out automation software for microwave measurement. The book includes discussions on microwave measurements-attenuation, microwave power and E-field strength. The contents of this book will be of interest to students, researchers and scientists working in the field of electromagnetism, antennas, communication and electromagnetic interference/electromagnetic compatibility (EMI/EMC). 

Sdílet

autoři
Naina Narang | V. N. Ojha | Satya Kesh Dubey | P. S. Negi
kategorie
Knihy » Cizojazyčná literatura » English literature » Nonfiction » Science
Témata
Nakladatel
Springer Verlag, Singapore
Rozměr
156 x 234 x 5
jazyk
angličtina
Vazba
měkká vazba
Hmotnost
130 g
isbn
978-981-10-6279-7
Počet stran
45
datum vydání
14.10.2017
ean
9789811062797

Hodnocení a recenze čtenářů Nápověda

0.0 z 5 0 hodnocení čtenářů

0× 5 hvězdiček 0× 4 hvězdičky 0× 3 hvězdičky 0× 2 hvězdičky 0× 1 hvezdička

Přidejte své hodnocení knihy

Načíst další hodnocení

Zobrazit všechna hodnocení

Přidat hodnocení

Vývoj ceny

Vývoj ceny Nápověda

Získejte přehled o vývoji ceny za posledních 60 dní.

Maloobchodní cena Minimální prodejní cena: 0 Kč Nápověda

Články, které stojí za pozornost

Zobrazit blog

Články, které stojí za pozornost